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毫米波环行器平面化进展及自偏置六角铁氧体研究述评

来源期刊:磁性材料及器件2019年第4期

论文作者:韩志全

文章页码:59 - 64

关键词:毫米波环行器;自偏置;M型六角铁氧体;W型六角铁氧体;铁磁共振线宽;有效线宽;厚膜;

摘    要:综合报道了最近国内外毫米波环行器的小型化、平面化进展,比较了自偏置及外场偏置微带环行器的性能,讨论了自偏置环行器插入损耗大的问题。回顾了近年来M型与W型六角铁氧体毫米波材料性能与离子代换的关系等研究动态;分析了微波频率下自偏置六角铁氧体的电磁损耗——铁磁共振线宽△H和介电损耗角正切tanδe的研究现状,讨论了BaM铁氧体△H的来源及进一步降低△H的途径——减小固相反应不完全致宽;阐明了减小器件插入损耗的关键在于降低非共振有效线宽△Heff,分析了BaM单晶较高△Heff产生的原因,提出了减小BaM多晶/单晶有效线宽的途径。最后讨论了有应用潜力的几种厚膜六角铁氧体制备工艺,包括液相外延、丝网印刷、低温共烧等。

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毫米波环行器平面化进展及自偏置六角铁氧体研究述评

韩志全

西南应用磁学研究所

摘 要:综合报道了最近国内外毫米波环行器的小型化、平面化进展,比较了自偏置及外场偏置微带环行器的性能,讨论了自偏置环行器插入损耗大的问题。回顾了近年来M型与W型六角铁氧体毫米波材料性能与离子代换的关系等研究动态;分析了微波频率下自偏置六角铁氧体的电磁损耗——铁磁共振线宽△H和介电损耗角正切tanδe的研究现状,讨论了BaM铁氧体△H的来源及进一步降低△H的途径——减小固相反应不完全致宽;阐明了减小器件插入损耗的关键在于降低非共振有效线宽△Heff,分析了BaM单晶较高△Heff产生的原因,提出了减小BaM多晶/单晶有效线宽的途径。最后讨论了有应用潜力的几种厚膜六角铁氧体制备工艺,包括液相外延、丝网印刷、低温共烧等。

关键词:毫米波环行器;自偏置;M型六角铁氧体;W型六角铁氧体;铁磁共振线宽;有效线宽;厚膜;

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