离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中铬、硅、磷
来源期刊:冶金分析2005年第1期
论文作者:孙福民 林国强 陆晓明 金德龙
关键词:X射线荧光光谱; 离心浇铸; 铬铁;
摘 要:采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确.当Cr,Si,P的质量分数分别为66.04%,0.64%,0.016%,其相对标准偏差分别为0.18%,3.12%,6.25%.该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求.
孙福民1,林国强1,陆晓明2,金德龙1
(1.上海申佳铁合金厂,上海,200431;
2.上海宝钢股份有限公司技术中心,上海,201900)
摘要:采用离心浇铸制样X射线荧光光谱测定铬铁中Cr,Si和P,能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确.当Cr,Si,P的质量分数分别为66.04%,0.64%,0.016%,其相对标准偏差分别为0.18%,3.12%,6.25%.该法测定值与化学值相比,一致性较好,能满足常规分析要求.
关键词:X射线荧光光谱; 离心浇铸; 铬铁;
【全文内容正在添加中】