波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

田文辉¹，王宝玲¹，苏雄¹，赵永宏¹

(1.金堆城钼业股份有限公司监测中心,陕西,渭南,714102)

摘要:采用粉末压片法制取试样,波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、SiO_2、CaO、K等7种成分.对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,试验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件后确定了最佳分析参数.选择了与试样基体相匹配的定值样品建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正.对于主次量组分,相对标准偏差低于1%(n=11).方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与湿法分析值相符.方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析.

关键词:波长色散X射线荧光光谱法; 氧化钼; 粉末压片; 主次成分; wave-dispersive X-ray fluorescence spectrometry; molybdenum oxide; pressed powder pellet; major and minor components;

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