饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测
来源期刊:贵金属2018年第S1期
论文作者:吴奕阳 杨鹔 黄国芳
文章页码:185 - 187
关键词:分析化学;X射线荧光法;银饰品;覆盖层厚度;样品总厚度;
摘 要:采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合。
吴奕阳1,杨鹔2,黄国芳1
1. 国家金银制品质量监督检验中心(上海)上海市计量测试技术研究院2. 国家金银制品质量监督检验中心(南京)南京市产品质量监督检验院
摘 要:采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合。
关键词:分析化学;X射线荧光法;银饰品;覆盖层厚度;样品总厚度;