ICP-AES法快速测定工业硅中杂质元素
来源期刊：理化检验-化学分册2000年第6期
论文作者：刘睿 王志嘉 王浩 曹海宁 赵婷
摘 要： 我国是工业硅生产大国,每年都有大量出口任务.硅产品是重要的原材料,其杂质含量严重影响产品质量,影响出口.为了国家出口创汇,寻找工业硅中微量杂质元素的快速准确分析方法,是商检部门亟待解决的课题.GB/T14849-93标准中.铁、钙及铝分析采用容量法和吸光光度法,其操作复杂周期长,消耗试剂多.铁和钙元素有用原子吸收光谱法[1,2],其中磷元素质量分数小于5×10-3%,是化学分析法和原子吸收光谱法均难以解决的.本文研究了用ICP-AES法,在同一份溶液中同时测定磷、铁、钙、铝、铜、钒和钛杂质元素,其中磷的检出下限为0.1μg·ml-1,当磷的质量分数为7×10-1%,其相对标准偏差为5.2%.该法简便、快速,并在实际应用中获得满意结果.
刘睿1，王志嘉1，王浩1，曹海宁1，赵婷1
(1.辽宁省分析测试研究中心,沈阳110015)
摘要: 我国是工业硅生产大国,每年都有大量出口任务.硅产品是重要的原材料,其杂质含量严重影响产品质量,影响出口.为了国家出口创汇,寻找工业硅中微量杂质元素的快速准确分析方法,是商检部门亟待解决的课题.GB/T14849-93标准中.铁、钙及铝分析采用容量法和吸光光度法,其操作复杂周期长,消耗试剂多.铁和钙元素有用原子吸收光谱法[1,2],其中磷元素质量分数小于5×10-3%,是化学分析法和原子吸收光谱法均难以解决的.本文研究了用ICP-AES法,在同一份溶液中同时测定磷、铁、钙、铝、铜、钒和钛杂质元素,其中磷的检出下限为0.1μg·ml-1,当磷的质量分数为7×10-1%,其相对标准偏差为5.2%.该法简便、快速,并在实际应用中获得满意结果.
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