X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量

来源期刊：冶金分析2014年第9期

论文作者：吕善胜 徐金龙 田琼 洪武兴 史亚晓

文章页码：39 - 42

关键词：X射线荧光光谱法;石灰石;压片制样;多组分;

摘    要：采用粉末压片法制样,建立了X射线荧光光谱法测定石灰石中10种组分(CaO、SiO2、MgO、Fe2O3、Al2O3、MnO、TiO2、K2O、Na2O、SrO)含量的方法。通过试验确定石灰石样品粒度达到74μm以下,3.00g样品称样量,30t压力压片的制样条件。试验发现,压片时利用硼酸镶边和硼酸衬底,不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题;利用经验α系数法校正基体效应,校正后校准曲线的离散度较小,有效地消除了重叠谱线干扰。各组分的检出限在0.47~188.08μg/g之间。对石灰石试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)在0.042%~5.7%范围内;对石灰石标准样品进行分析,各组分的测定值与认定值相符。方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。