辉光放电质谱法分析高纯镓时检出限降低的研究
来源期刊：理化检验-化学分册2006年第6期
论文作者：葛爱景 陈刚
关键词：辉光放电质谱法; 检出限; 高纯镓; 杂质测定;
摘 要：研究了用辉光放电质谱法(GDMS)测定高纯镓时,以钙、锡、汞为测定对象,从增加样品的直径、适当降低工作分辨率、增加扫描次数以及增加积分时间等方面进行研究,降低了方法的检出限.
葛爱景1，陈刚1
(1.中科院,上海硅酸盐研究所分析测试中心,200050)
摘要:研究了用辉光放电质谱法(GDMS)测定高纯镓时,以钙、锡、汞为测定对象,从增加样品的直径、适当降低工作分辨率、增加扫描次数以及增加积分时间等方面进行研究,降低了方法的检出限.
关键词:辉光放电质谱法; 检出限; 高纯镓; 杂质测定;
【全文内容正在添加中】
