微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中稀土杂质
来源期刊：中国稀土学报2005年第1期
论文作者：李继东 郑永章 伍星
关键词：微柱分离; ICP-MS; 高纯氧化钐; 杂质; 稀土;
摘 要：研究了微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中痕量Dy, Ho, Er, Tm的方法, 方法基于采用Cyanex 272负载树脂微柱, 选定上述杂质与大量基体分离的实验条件, 分离周期为32 min. 最终建立了微柱分离Sm后测定Dy, Ho, Er, Tm, 其他稀土杂质用内标补偿ICP-MS法直接测定的分析方法. 方法测定下限为0.1～5.0 μg·g-1, 加标回收率为90%～115%, 相对标准偏差为0.9%～5.1%. 本法可满足快速测定99.999% 氧化钐中14个稀土杂质的要求.
李继东1，郑永章1，伍星1
(1.北京有色金属研究总院分析测试中心,北京,100088)
摘要:研究了微柱分离-ICP-MS测定高纯氧化钐中痕量Dy, Ho, Er, Tm的方法, 方法基于采用Cyanex 272负载树脂微柱, 选定上述杂质与大量基体分离的实验条件, 分离周期为32 min. 最终建立了微柱分离Sm后测定Dy, Ho, Er, Tm, 其他稀土杂质用内标补偿ICP-MS法直接测定的分析方法. 方法测定下限为0.1～5.0 μg·g-1, 加标回收率为90%～115%, 相对标准偏差为0.9%～5.1%. 本法可满足快速测定99.999% 氧化钐中14个稀土杂质的要求.
关键词:微柱分离; ICP-MS; 高纯氧化钐; 杂质; 稀土;
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