简介概要

氧分压对氧化镍薄膜表面形貌和光电性能的影响

来源期刊:功能材料2008年第8期

论文作者:盛英卓 刘化然 冯博学 黄鹏 李金荣 杨伟峰 宋宇

关键词:NiOx; 射频溅射; 电致变色; 氧分压;

摘    要:采用射频溅射法在SnO2衬底上生长了NiOx薄膜,制备的薄膜是非理想化学计量的微晶薄膜.研究了氧分压对NiOx薄膜的溅射速率、表面形貌和光学电学特性的影响.研究结果显示,O2分压在1∶10时,可得到最快的沉积速率;低的氧分压沉积的薄膜表面比较疏松;随着氧含量的增加,方块电阻呈上升趋势,当氧分压达到一定值时,膜电阻又开始下降;随着氧分压的升高,颜色会逐渐加深,透射率降低.

详情信息展示

氧分压对氧化镍薄膜表面形貌和光电性能的影响

盛英卓1,刘化然1,冯博学1,黄鹏1,李金荣1,杨伟峰1,宋宇1

(1.兰州大学,磁学与磁性材料教育部重点实验室,甘肃,兰州,730000)

摘要:采用射频溅射法在SnO2衬底上生长了NiOx薄膜,制备的薄膜是非理想化学计量的微晶薄膜.研究了氧分压对NiOx薄膜的溅射速率、表面形貌和光学电学特性的影响.研究结果显示,O2分压在1∶10时,可得到最快的沉积速率;低的氧分压沉积的薄膜表面比较疏松;随着氧含量的增加,方块电阻呈上升趋势,当氧分压达到一定值时,膜电阻又开始下降;随着氧分压的升高,颜色会逐渐加深,透射率降低.

关键词:NiOx; 射频溅射; 电致变色; 氧分压;

【全文内容正在添加中】

<上一页 1 下一页 >

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号