ICP-AES法测定不锈钢中高含量镍和铬的光谱干扰和校正

来源期刊：分析试验室2017年第2期

论文作者：胡璇 石磊

文章页码：203 - 206

关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法;不锈钢;光谱干扰;校正;

摘    要：使用HNO3,HF,HCl O4溶解不锈钢样品,以Ni 231.6 nm,Cr 267.7 nm作为分析谱线,以干扰系数法校正Fe对Ni和Cr的光谱干扰,建立了ICP-AES法测定不锈钢中高含量Ni和Cr的方法。通过测定不同铁基体浓度下Ni和Cr的发射强度,考察铁基体对Ni和Cr的光谱干扰。实验结果表明:铁基体对Ni和Cr均存在光谱干扰,将实验方法用于不锈钢标准样品中Ni和Cr的测定,经光谱干扰校正后,结果与参考值吻合,测定结果的绝对误差在0.35%⁰.63%间,相对标准偏差（RSD,n=6）在0.68%¹.1%间。