简介概要

提高覆铜板耐漏电起痕指数的研究

来源期刊:绝缘材料2006年第5期

论文作者:朱学文

关键词:印制电路; 基板; 耐漏电起痕指数; 氢氧化铝; 无卤环氧树脂;

摘    要:通过降低印制电路板的基板表层的溴含量并加入氢氧化铝,显著提高了基板的相比漏电起痕指数(CTI),并同时提高了基板的尺寸稳定性、耐热性、玻璃化温度.

详情信息展示

提高覆铜板耐漏电起痕指数的研究

朱学文1

(1.深圳太平洋绝缘材料有限公司,广东,深圳,518052)

摘要:通过降低印制电路板的基板表层的溴含量并加入氢氧化铝,显著提高了基板的相比漏电起痕指数(CTI),并同时提高了基板的尺寸稳定性、耐热性、玻璃化温度.

关键词:印制电路; 基板; 耐漏电起痕指数; 氢氧化铝; 无卤环氧树脂;

【全文内容正在添加中】

<上一页 1 下一页 >

相关论文

  • 暂无!

相关知识点

  • 暂无!

有色金属在线官网  |   会议  |   在线投稿  |   购买纸书  |   科技图书馆

中南大学出版社 技术支持 版权声明   电话:0731-88830515 88830516   传真:0731-88710482   Email:administrator@cnnmol.com

互联网出版许可证:(署)网出证(京)字第342号   京ICP备17050991号-6      京公网安备11010802042557号