提高覆铜板耐漏电起痕指数的研究
来源期刊:绝缘材料2006年第5期
论文作者:朱学文
关键词:印制电路; 基板; 耐漏电起痕指数; 氢氧化铝; 无卤环氧树脂;
摘 要:通过降低印制电路板的基板表层的溴含量并加入氢氧化铝,显著提高了基板的相比漏电起痕指数(CTI),并同时提高了基板的尺寸稳定性、耐热性、玻璃化温度.
朱学文1
(1.深圳太平洋绝缘材料有限公司,广东,深圳,518052)
摘要:通过降低印制电路板的基板表层的溴含量并加入氢氧化铝,显著提高了基板的相比漏电起痕指数(CTI),并同时提高了基板的尺寸稳定性、耐热性、玻璃化温度.
关键词:印制电路; 基板; 耐漏电起痕指数; 氢氧化铝; 无卤环氧树脂;
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