电子束焊接热冲击对GH4133A的微裂纹损伤研究

张海泉¹，张彦华¹，张行安²，李刘合¹，马翔生³

(1.北京航空航天大学，北京 100083;
2.北京航空材料研究院，北京 100095;
3.北京航空工艺研究所，北京 100024)

摘要:电子束焊接是一个复杂的强瞬态的热冲击过程，包括发生在表层的热过程和发生在一定深度的应力波与材料的交互作用。本文基于电子束焊接热冲击效应分析了高温合金电子束焊接接头热影响区的微裂纹形成原因，研究了微裂纹损伤对GH4133A电子束接头高温力学性能的影响。结果表明，热冲击是高温合金电子束焊接热影响区的微裂纹损伤的主要原因，热冲击损伤效应导致接头力学性能的劣化。

关键词:电子束焊; 热冲击; 热影响区微裂纹; 损伤效应; electron-beam welding; thermal shock; HAZ microfissuring; damage effect;

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