CdTe量子点荧光猝灭法测定痕量铬(Ⅲ)
来源期刊：分析试验室2011年第1期
论文作者：徐基贵 张俊俊 陈志兵 陈玉 张莉
文章页码：26 - 28
关键词：CdTe量子点;Cr(Ⅲ);荧光猝灭;
摘 要：以CdTe量子点作为荧光探针,基于荧光猝灭法对Cr（Ⅲ）进行了定量检测,考察了缓冲溶液、量子点浓度、反应时间等多种因素的影响。实验结果表明,在0.1mL pH7.3的0.2mol/L Na2HPO4-NaH2PO4缓冲液中,反应时间为20min,Cr（Ⅲ）浓度为2.4×10-7～6.0×10-6mol/L范围时,其线性回归方程为F0/F=1.1274+0.0640c（10-7mol/L）,相关系数和检测限分别为0.9984和4.5×10-8mol/L。为Cr（Ⅲ）的测定提供了新的方法。
徐基贵1,2，张俊俊2，陈志兵1,2，陈玉2，张莉1,2
1. 自旋电子与纳米材料安徽省重点实验室培育基地2. 宿州学院化学与生命科学学院
摘 要：以CdTe量子点作为荧光探针,基于荧光猝灭法对Cr（Ⅲ）进行了定量检测,考察了缓冲溶液、量子点浓度、反应时间等多种因素的影响。实验结果表明,在0.1mL pH7.3的0.2mol/L Na2HPO4-NaH2PO4缓冲液中,反应时间为20min,Cr（Ⅲ）浓度为2.4×10-7～6.0×10-6mol/L范围时,其线性回归方程为F0/F=1.1274+0.0640c（10-7mol/L）,相关系数和检测限分别为0.9984和4.5×10-8mol/L。为Cr（Ⅲ）的测定提供了新的方法。
关键词：CdTe量子点;Cr(Ⅲ);荧光猝灭;
