X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素
来源期刊：理化检验-化学分册2006年第12期
论文作者：马慧侠 张爱芬
关键词：X-射线荧光光谱法; 杂质; 氧化铝; 硼酸盐融熔法制备试样;
摘 要：应用X-射线荧光光谱法测定了氧化铝中11种杂质成分(SiO2,Fe2O3,Na2O,K2O,CaO,TiO2,P2O5,ZnO,V2O5,Ga2O3,Cr2O3).试样用四硼酸锂和偏硼酸锂作混合熔剂融熔制成玻璃状片形熔块.通过在高纯氧化铝中加入一定量的上述11种元素的纯氧化物配制成中间标准样品,并用此中间标准样品和纯氧化铝作为空白试样组成高、低标,制备了校正曲线.又用此中间标准样品与纯氧化铝按一定比例配制控制样品对分析过程进行质量控制.对所提出方法的精密度进行了考核,结果表明以上11种杂质成分测定结果的RSD值均小于10%.用4种标样对此方法的准确度进行验证,结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定.
马慧侠1，张爱芬1
(1.中国铝业股份有限公司郑州研究院,郑州,450041)
摘要:应用X-射线荧光光谱法测定了氧化铝中11种杂质成分(SiO2,Fe2O3,Na2O,K2O,CaO,TiO2,P2O5,ZnO,V2O5,Ga2O3,Cr2O3).试样用四硼酸锂和偏硼酸锂作混合熔剂融熔制成玻璃状片形熔块.通过在高纯氧化铝中加入一定量的上述11种元素的纯氧化物配制成中间标准样品,并用此中间标准样品和纯氧化铝作为空白试样组成高、低标,制备了校正曲线.又用此中间标准样品与纯氧化铝按一定比例配制控制样品对分析过程进行质量控制.对所提出方法的精密度进行了考核,结果表明以上11种杂质成分测定结果的RSD值均小于10%.用4种标样对此方法的准确度进行验证,结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定.
关键词:X-射线荧光光谱法; 杂质; 氧化铝; 硼酸盐融熔法制备试样;
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