X-射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁
来源期刊：冶金分析2006年第3期
论文作者：丁仕兵 岳春雷 曲晓霞
摘 要： X-射线荧光光谱法广泛应用于测定铁矿石中杂质成分和铁含量,但有关标准[1-2]仅把铁含量作为参考数据用于计算基体效应.通过大量的比对试验发现,采用高纯度试剂人工合成校准样和利用标准曲线法直接测定铁含量准确度较高,可以作为全铁的测定方法.本法具有前处理简单、测定速度快、节省人力物力等优点,还可以同时测定铁矿石中二氧化硅、氧化铝、氧化钙、氧化镁、磷、锰、二氧化钛等杂质.
丁仕兵1，岳春雷1，曲晓霞1
(1.黄岛出入境检验检疫局,山东,青岛,266555)
摘要: X-射线荧光光谱法广泛应用于测定铁矿石中杂质成分和铁含量,但有关标准[1-2]仅把铁含量作为参考数据用于计算基体效应.通过大量的比对试验发现,采用高纯度试剂人工合成校准样和利用标准曲线法直接测定铁含量准确度较高,可以作为全铁的测定方法.本法具有前处理简单、测定速度快、节省人力物力等优点,还可以同时测定铁矿石中二氧化硅、氧化铝、氧化钙、氧化镁、磷、锰、二氧化钛等杂质.
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