铝酸锶长余辉发光材料的光谱特性及陷阱浓度分析
来源期刊:材料热处理学报2013年第5期
论文作者:徐超 卢佃清 熊远禄
文章页码:15 - 19
关键词:铝酸盐;长余辉发光材料;晶格缺陷;光谱曲线;
摘 要:采用高温固相法制备了Sr0.96Al2O4:Eu0.02,Dy0.02,B0.08长余辉发光材料。利用XRD衍射仪、荧光分光光度计和热释光计量仪对样品进行了测试。对余辉衰减曲线的拟合表明,余辉曲线中的快衰减过程与V˙O˙陷阱有关,而慢衰减过程源于Eu˙Sr和Dy˙Sr陷阱中的电子释放;随着球磨时间的增加,Dy˙Sr陷阱浓度也随之增加。热释光光谱的曲线拟合表明,热释光峰反映的是Dy˙Sr陷阱的特性;当陷阱浓度相差不大时,动力学级次越小,陷阱中电子的局域性越强,基质导带底产生一个由局域态组成的带尾,陷阱深度随之减小。
徐超1,卢佃清1,熊远禄2
1. 淮海工学院理学院2. 武汉理工大学材料科学与工程学院
摘 要:采用高温固相法制备了Sr0.96Al2O4:Eu0.02,Dy0.02,B0.08长余辉发光材料。利用XRD衍射仪、荧光分光光度计和热释光计量仪对样品进行了测试。对余辉衰减曲线的拟合表明,余辉曲线中的快衰减过程与V˙O˙陷阱有关,而慢衰减过程源于Eu˙Sr和Dy˙Sr陷阱中的电子释放;随着球磨时间的增加,Dy˙Sr陷阱浓度也随之增加。热释光光谱的曲线拟合表明,热释光峰反映的是Dy˙Sr陷阱的特性;当陷阱浓度相差不大时,动力学级次越小,陷阱中电子的局域性越强,基质导带底产生一个由局域态组成的带尾,陷阱深度随之减小。
关键词:铝酸盐;长余辉发光材料;晶格缺陷;光谱曲线;