ICP-AES法测定工业硅中10种杂质元素
来源期刊：冶金分析2003年第1期
论文作者：杨万彪 陈新焕 袁智能 傅明 胡宇东
关键词：ICP-AES; 工业硅; 杂质元素测定;
摘 要：研究了利用ICP发射光谱仪测定工业硅中Fe,Al,Ca,P,Ti,Cu,Zn,Mg,Mn,Ni等10种元素的方法,确定了各元素的检出限,回收率在94%～105%之间,RSD小于3.5%,该方法用于样品测定,结果满意.
杨万彪1，陈新焕1，袁智能1，傅明1，胡宇东1
(1.湖南出入境检验检疫局,湖南长沙,410007)
摘要:研究了利用ICP发射光谱仪测定工业硅中Fe,Al,Ca,P,Ti,Cu,Zn,Mg,Mn,Ni等10种元素的方法,确定了各元素的检出限,回收率在94%～105%之间,RSD小于3.5%,该方法用于样品测定,结果满意.
关键词:ICP-AES; 工业硅; 杂质元素测定;
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