微量样品的X射线粉晶衍射分析研究

陈爱清^1,2,3，江向峰⁴，李国武⁵，薛雍⁴，庞小丽⁴

1. 中国科学院矿物学与成矿学重点实验室中国科学院广州地球化学研究所2. 广东省矿物物理与材料研究开发重点实验室3. 中国科学院大学4. 北京北达燕园微构分析测试中心5. 中国地质大学(北京)

摘 要：采用石英单晶体制做了一个无背景片样品架,具有2θ小于120°范围内无衍射峰,背景很低等优异特点。以微量的锆石、绿柱石和青铜器样品为例进行了测试,得到的数据质量高,可以正确的鉴定所含物相以及相对含量。且所用的样品量为几毫克到几十毫克,因此对于微量试样的分析将具有重要的意义。

关键词：X射线衍射;微量试样;无背景片;