脉冲离子束辐照对TiH2膜表面微观结构的影响
来源期刊：金属学报2013年第10期
论文作者：刘洋 向伟 王博宇
文章页码：1269 - 1274
关键词：TiH2;脉冲离子束;表面形貌;慢正电子湮没技术;
摘 要：在TEMP-6型强流脉冲离子束装置上,利用能量密度0.1-0.5 J/cm2,脉宽100 ns,能量100 keV的C+和H+混合离子束对TiH2膜进行逐次轰击以研究其在脉冲能量下的稳定性.采用扫描电镜和表面轮廓仪对TiH2膜辐照前后表面形貌进行研究;利用X射线衍射和慢正电子湮没技术对脉冲离子束辐照前后TiH2膜的物相和缺陷结构进行分析.结果表明:0.1-0.3 J/cm2的脉冲束流辐照热-力效应不足以导致膜明显熔化和开裂;0.5 J/cm2的脉冲束流辐照致使膜明显熔化并伴随产生大量的网状裂纹.0.1-0.3 J/cm2的脉冲辐照条件下TiH2的物相结构未发生明显变化,而0.5 J/cm2条件下δ-TiH2开始发生向体心四方（bct）结构的非平衡相变,并且随着辐照次数的继续增加膜内开始析出纯Ti的物相.脉冲束流辐照下的热-力学效应导致膜内缺陷的分布发生显著改变,导致膜的慢正电子Doppler展宽谱的S参数在0.5 J/cm2 5次轰击时达最小,而在0.3 J/cm2 1次轰击时最大.
刘洋1,2，向伟2，王博宇2
1. 兰州大学核科学与技术学院2. 中国工程物理研究院
摘 要：在TEMP-6型强流脉冲离子束装置上,利用能量密度0.1-0.5 J/cm2,脉宽100 ns,能量100 keV的C+和H+混合离子束对TiH2膜进行逐次轰击以研究其在脉冲能量下的稳定性.采用扫描电镜和表面轮廓仪对TiH2膜辐照前后表面形貌进行研究;利用X射线衍射和慢正电子湮没技术对脉冲离子束辐照前后TiH2膜的物相和缺陷结构进行分析.结果表明:0.1-0.3 J/cm2的脉冲束流辐照热-力效应不足以导致膜明显熔化和开裂;0.5 J/cm2的脉冲束流辐照致使膜明显熔化并伴随产生大量的网状裂纹.0.1-0.3 J/cm2的脉冲辐照条件下TiH2的物相结构未发生明显变化,而0.5 J/cm2条件下δ-TiH2开始发生向体心四方（bct）结构的非平衡相变,并且随着辐照次数的继续增加膜内开始析出纯Ti的物相.脉冲束流辐照下的热-力学效应导致膜内缺陷的分布发生显著改变,导致膜的慢正电子Doppler展宽谱的S参数在0.5 J/cm2 5次轰击时达最小,而在0.3 J/cm2 1次轰击时最大.
关键词：TiH2;脉冲离子束;表面形貌;慢正电子湮没技术;
