背景扣除光谱干扰-单道扫描电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高合金钢中磷
来源期刊:冶金分析2015年第10期
论文作者:朱莉 纪红玲 赵君威
文章页码:42 - 48
关键词:背景扣除;单道扫描;电感耦合等离子体原子发射光谱法;高合金钢;磷;
摘 要:利用单道扫描型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)的高分辨率及步进扫描功能,精确定位选择背景扣除点,有效消除了Cu 213.597nm、Fe 213.592nm谱线对P 213.618nm分析谱线的严重尾翼干扰和铬、镍、钼等元素的背景增强影响。对比了P 213.618nm作为分析谱线和充高纯氮气、P 178.229nm作为分析谱线的测定结果,发现采用P 213.618nm作为分析谱线测定结果的精密度更好。按照实验方法测定高合金中磷,无须对铬、镍、钼、铜等元素进行基体匹配,也不必使用干扰因子校正法消除铜的影响,并且使用同条铁基校准曲线,能同时进行低合金钢和高合金钢中微量磷的测定。磷校准曲线的线性相关系数r=0.999 1,方法可以测定高合金钢中质量分数低至0.002%的磷。按照实验方法测定高合金钢标准样品中磷,测定值与认定值一致。测定高合金钢中质量分数为0.006 8%的磷,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)小于4%。
朱莉,纪红玲,赵君威
宝山钢铁集团中央研究院
摘 要:利用单道扫描型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)的高分辨率及步进扫描功能,精确定位选择背景扣除点,有效消除了Cu 213.597nm、Fe 213.592nm谱线对P 213.618nm分析谱线的严重尾翼干扰和铬、镍、钼等元素的背景增强影响。对比了P 213.618nm作为分析谱线和充高纯氮气、P 178.229nm作为分析谱线的测定结果,发现采用P 213.618nm作为分析谱线测定结果的精密度更好。按照实验方法测定高合金中磷,无须对铬、镍、钼、铜等元素进行基体匹配,也不必使用干扰因子校正法消除铜的影响,并且使用同条铁基校准曲线,能同时进行低合金钢和高合金钢中微量磷的测定。磷校准曲线的线性相关系数r=0.999 1,方法可以测定高合金钢中质量分数低至0.002%的磷。按照实验方法测定高合金钢标准样品中磷,测定值与认定值一致。测定高合金钢中质量分数为0.006 8%的磷,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)小于4%。
关键词:背景扣除;单道扫描;电感耦合等离子体原子发射光谱法;高合金钢;磷;