钼蓝光度法测定高纯氧化铋中微量硅
来源期刊：矿冶2003年第1期
论文作者：高颖剑
关键词：高纯氧化铋; 二氧化硅; 氢溴酸; 钼蓝; 分光光度法;
摘 要：采用氢溴酸直接分解高纯氧化铋试样,并使铋生成易挥发的溴化铋除去,从而消除了铋对测定硅的干扰,硅以钼蓝光度法测定.其最大吸收波长为810nm,表观摩尔吸光系数为2.12×104L*mol-1*cm-1,二氧化硅在0～60μg/50mL范围内符合比耳定律.该方法用于高纯氧化铋中微量硅的测定,获得满意结果,适用于高纯氧化铋中0.001%～0.01% SiO2的测定,其RSD为1.50%～6.94%、回收率为96.00%～105.10%.
高颖剑1
(1.北京矿冶研究总院,北京,100044)
摘要:采用氢溴酸直接分解高纯氧化铋试样,并使铋生成易挥发的溴化铋除去,从而消除了铋对测定硅的干扰,硅以钼蓝光度法测定.其最大吸收波长为810nm,表观摩尔吸光系数为2.12×104L*mol-1*cm-1,二氧化硅在0～60μg/50mL范围内符合比耳定律.该方法用于高纯氧化铋中微量硅的测定,获得满意结果,适用于高纯氧化铋中0.001%～0.01% SiO2的测定,其RSD为1.50%～6.94%、回收率为96.00%～105.10%.
关键词:高纯氧化铋; 二氧化硅; 氢溴酸; 钼蓝; 分光光度法;
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