垂直排列ReS2(1-x)Se2x合金纳米片的控制合成及带隙调控
来源期刊:无机材料学报2018年第10期
论文作者:敖伟栋 刘妍 马青山 刘欢 周斌 郑霄家 于东麒 张文华
文章页码:1083 - 1088
关键词:ReS2(1–x)Se2x;ReS2;硒化;垂直排列;带隙调控;
摘 要:二维过渡金属硫属化合物具有优异的电学和光学特性,形貌控制及带隙调控对于其在光电子学、光子学、纳米电子学领域中的应用至关重要。研究采用CVD技术在SiO2/Si衬底上生长了垂直排列ReS2纳米片材料,硒化处理后得到ReS2(1-x)Se2x合金纳米片,并研究了硒化温度(700、850和920℃)及硒化时间(0.5、1和1.5h)对ReS2(1-x)Se2x合金纳米片形貌及组分的影响。XPS元素定量分析及紫外–可见–近红外吸收光谱研究表明ReS2(1-x)Se2x样品中Se含量可以在x=0(纯ReS2)到x=0.86之间调变,相应材料的带隙可从1.55eV(800nm)调变到1.28eV(969 nm)。SEM结果显示ReS2(1-x)Se2x纳米片的结构受到硒化温度和硒化时间的影响,硒化温度升高和硒化时间延长会破坏纳米片的垂直结构。上述结果表明本研究成功合成了垂直排列ReS2(1-x)Se2x合金纳米片,该材料在电化学催化、功能电子器件和光电子器件方面具有潜在应用价值。
敖伟栋1,2,刘妍2,马青山2,刘欢1,周斌2,郑霄家2,于东麒1,张文华2
1. 辽宁师范大学物理与电子技术学院2. 中国工程物理研究院化工材料研究所四川省新材料研究中心
摘 要:二维过渡金属硫属化合物具有优异的电学和光学特性,形貌控制及带隙调控对于其在光电子学、光子学、纳米电子学领域中的应用至关重要。研究采用CVD技术在SiO2/Si衬底上生长了垂直排列ReS2纳米片材料,硒化处理后得到ReS2(1-x)Se2x合金纳米片,并研究了硒化温度(700、850和920℃)及硒化时间(0.5、1和1.5h)对ReS2(1-x)Se2x合金纳米片形貌及组分的影响。XPS元素定量分析及紫外–可见–近红外吸收光谱研究表明ReS2(1-x)Se2x样品中Se含量可以在x=0(纯ReS2)到x=0.86之间调变,相应材料的带隙可从1.55eV(800nm)调变到1.28eV(969 nm)。SEM结果显示ReS2(1-x)Se2x纳米片的结构受到硒化温度和硒化时间的影响,硒化温度升高和硒化时间延长会破坏纳米片的垂直结构。上述结果表明本研究成功合成了垂直排列ReS2(1-x)Se2x合金纳米片,该材料在电化学催化、功能电子器件和光电子器件方面具有潜在应用价值。
关键词:ReS2(1–x)Se2x;ReS2;硒化;垂直排列;带隙调控;