X射线荧光光谱仪的进展

来源期刊：分析试验室1983年第3期

论文作者：陈远盘

文章页码：17 - 21

摘    要：<正> X射线荧光光谱法具有可以不破坏样品,准确度高,能测定固体、粉末、液体样品中高、中、低和微量元素,分析速度快等主要优点,因此引起人们愈来愈大的重视。自70年代以来,X射线荧光光谱分析法及其仪器已发展到一个新阶段,成为一种必不可少的分析手段。根据美国分析化学杂志的有关综述(1951～1970)和X射线荧光光谱分析文摘(1971～1981)绘制的文献逐年增长情况图(图1)表明,关于这种分析技术的文献数量近几年显著增加。1978和11979年比1977年增加50%,1980和1981年虽稍有减少。但总的趋势仍是增加。据估计近几年文献的增加多半直接与应用有关,关于仪器和改进技术的文献约占20%。