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X-射线荧光光谱法测定硅石中主次成分

来源期刊:冶金分析2008年第10期

论文作者:李卫刚 林忠 蒋晓光

关键词:硅石; X-射线荧光光谱法; 主次成分; 熔融制样;

摘    要:采用硅石标准样品及其复配标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅石中SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,MgO,K2O,TiO2,MnO,P2O5主次成分的方法.采用熔融法为试料片和校准片的制备方法,通过试验选择四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔荆(12:22,m/m)为助熔剂、1.00 mLz LiBr溶液为脱模剂、稀释比为1:20、熔融时间30 min.采用可变理论α系数对基体效应进行校正.对同一硅石样品进行测定的相对标准偏差(RSD)小于8%,对不同硅石样品进行测定,本法的测定结果与标准方法的测定结果相吻合,偏差在允许范围内,t检验合格.



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X-射线荧光光谱法测定硅石中主次成分

李卫刚1,林忠1,蒋晓光1

(1.鲅鱼圈出入境检验检疫局,辽宁营口,115007)

摘要:采用硅石标准样品及其复配标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅石中SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,MgO,K2O,TiO2,MnO,P2O5主次成分的方法.采用熔融法为试料片和校准片的制备方法,通过试验选择四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔荆(12:22,m/m)为助熔剂、1.00 mLz LiBr溶液为脱模剂、稀释比为1:20、熔融时间30 min.采用可变理论α系数对基体效应进行校正.对同一硅石样品进行测定的相对标准偏差(RSD)小于8%,对不同硅石样品进行测定,本法的测定结果与标准方法的测定结果相吻合,偏差在允许范围内,t检验合格.

关键词:硅石; X-射线荧光光谱法; 主次成分; 熔融制样;

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