粉末压片-X射线荧光光谱法与红外吸收光谱法联合测定萤石中各组分

来源期刊：中国无机分析化学2014年第1期

论文作者：佡云

文章页码：50 - 52

关键词：萤石;X-射线荧光光谱法;基体校正;直接粉末压片法;红外吸收光谱法;

摘    要：采用粉末直接压片法,用X-射线荧光光谱法[1]测得萤石中Ca总量,Fe2O3,P,SiO2,K2O的含量,再用红外吸收光谱法测得样品中碳含量,换算得到CaCO3中的钙含量,进一步求得萤石中CaF2含量。此方法简便、准确。用9个标准物质制定了工作曲线,并进行了自测,另用该系列中5号样品（GBW07254）进行准确度和精密度测试,结果令人满意。