智能结构损伤的分布式光纤测试技术

来源期刊：机械设计与制造2008年第9期

论文作者：曹高峰 于芳芳 原博 魏涛

文章页码：172 - 173

关键词：分布式;光纤传感器;损耗与应变关系;OTDR;

摘    要：在智能结构局部发生变形时,其变形部位损伤程度可以用应变来表示。光纤在受力情况下发生弹光效应,即在应力作用下光纤材料的折射率将发生变化,通过测试折射率变化的信息就可以确定损伤发生的位置。推导了光纤分布式测试技术中反射光损耗与应变量之间的关系,发现在较大的应变范围内应变和损耗的关系是接近线性的,并用实验方法测试了损伤(应力变化)与功率损耗的关系,确定了损伤发生位置。