X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb、Zn、Cu、Fe、Mn
来源期刊：分析试验室1994年第1期
论文作者：郑厚琳 吴名剑
关键词：XRFA;Mylar膜;钒内标;Pb、Zn、Cu、Fe、Mn;
摘 要：本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。
郑厚琳，吴名剑
中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所中南工业大学化学系
摘 要：本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。
关键词：XRFA;Mylar膜;钒内标;Pb、Zn、Cu、Fe、Mn;
