毫米波环行器平面化进展及自偏置六角铁氧体研究述评
来源期刊：磁性材料及器件2019年第5期
论文作者：韩志全
文章页码：53 - 58
摘 要：<正>(续上期)3.2电磁损耗(tan δ_e和(35)H)及线宽来源分析如第2节所述,自偏置环行器工程化应用的主要障碍是插入损耗偏大,其原因主要是来自于材料的微波电磁损耗。下面分别讨论介电损耗tan δ_e和磁损耗(35)H,以及进一步降低(35)H的可能性。3.2.1tan δ_e目前国内外自偏置六角铁氧体介电损耗的研究
韩志全
西南应用磁学研究所
摘 要：<正>(续上期)3.2电磁损耗(tan δ_e和(35)H)及线宽来源分析如第2节所述,自偏置环行器工程化应用的主要障碍是插入损耗偏大,其原因主要是来自于材料的微波电磁损耗。下面分别讨论介电损耗tan δ_e和磁损耗(35)H,以及进一步降低(35)H的可能性。3.2.1tan δ_e目前国内外自偏置六角铁氧体介电损耗的研究
关键词：
