四硼酸锂坩埚内预氧化熔融制样-X射线荧光光谱法测定锰铁及锰硅合金中的硅、锰、磷
来源期刊：理化检验-化学分册2016年第11期
论文作者：徐建平
文章页码：1344 - 1346
摘 要：<正>X射线荧光光谱法(XRF)是一种适合于主量、次量及微量成分分析的方法。样品制备是XRF分析的重要环节。固体样品的制备可采用不改变样品的微观结构直接磨光(拋光)法和粉末压片法,还可采用改变样品的结构融化离心浇铸法、硼酸盐熔融铸片法。熔融铸片技术具有灵活加入基准物质或标准样品,稀释、均匀化样品和改变样品结构的特
徐建平
武汉科技大学,省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室
摘 要：<正>X射线荧光光谱法(XRF)是一种适合于主量、次量及微量成分分析的方法。样品制备是XRF分析的重要环节。固体样品的制备可采用不改变样品的微观结构直接磨光(拋光)法和粉末压片法,还可采用改变样品的结构融化离心浇铸法、硼酸盐熔融铸片法。熔融铸片技术具有灵活加入基准物质或标准样品,稀释、均匀化样品和改变样品结构的特
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