X射线荧光光谱分析测定环境空气中无机元素

来源期刊：分析试验室2018年第7期

论文作者：高捷 盛成 申如香 钱荣 王群 卓尚军

文章页码：809 - 812

关键词：X射线荧光光谱;空气滤膜;无机元素;NIST SRM2783;

摘    要：无需麦拉膜或聚丙烯膜覆盖在空气滤膜样品表面,使用普通液体杯、氦气介质下就可直接用WDXRF测量环境空气中的无机元素。用建立的方法测定了大气颗粒物标准膜样品NIST SRM2783,测定出的元素结果与标准值的相对标准偏差最大仅为4.1%。用建立的方法测定了4个实际滤膜样品中的Na,M g,Al,Si,P,S,K,Ca,Ti,V,Cr,M n,Fe,Cu,Zn,Ba,Pb元素,并和等离子体质谱（ICP-MS）、等离子体光谱（ICP-OES）的结果比较,结果显示本方法可靠,能够满足目前的监测需求和广泛使用。