圆孔缺陷直径与应力集中对金属磁记忆信号的影响

来源期刊：磁性材料及器件2016年第1期

论文作者：徐坤山 仇性启 姜辉 魏仁超 陈帅甫

文章页码：49 - 53

关键词：缺陷;应力集中;金属磁记忆;磁场强度;

摘    要：制备了含有圆孔缺陷的试样,通过磁学分析和磁记忆检测,研究了圆孔缺陷直径和应力集中对磁记忆检测结果的影响。结果表明,磁场强度梯度平均值K_ave和最大值K_max、磁场强度梯度曲线围成的面积S（K）、金属极限状态系数m_max随着圆孔缺陷直径的增大而增大;缺陷位置因磁导率变化而引起磁记忆信号变化;缺陷位置磁场强度梯度曲线相邻两个峰值的间距W_P-P随着圆孔缺陷直径的增加而增大。同一缺陷的磁场强度最大值H_max、磁场强度曲线围成的面积S（H）随着外加载荷的增加逐渐增大。