简介概要

La微掺杂对Bi2Sr2CaCu2O8+δ化合物结构及导电特性的影响

来源期刊:东北大学学报(自然科学版)2008年第11期

论文作者:张影 李茂林 杨华哲 祁阳

文章页码:1601 - 1604

关键词:Bi2212;溶胶-凝胶法;La掺杂;结构变化;超导电性;

摘    要:采用络合物型溶胶-凝胶法,通过对Bi2Sr2CaCu2O8+δ(Bi2212)超导相进行Bi位La微量掺杂制备(Bi1-xLax)2Sr2CaCu2O8+δ化合物粉体,研究了La替代部分Bi所引起的结构及导电特性变化.该粉体制备以可溶性无机盐为原料,乙二胺四乙酸(EDTA)为络合剂,La微掺杂x范围为0.010.09.利用TG-DTA曲线对化学反应过程进行分析,利用X射线衍射进行相分析,利用标准四引线法测试导电特性随温度的变化(R-T).结果表明,该粉体相仍保持正交Bi2212结构,但a和b轴长度增加,c轴减少;随La微掺杂的量的增加,对Bi2212相的导电特性影响显著.

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La微掺杂对Bi2Sr2CaCu2O8+δ化合物结构及导电特性的影响

张影1,李茂林1,杨华哲1,祁阳1,2

1. 东北大学理学院2. 东北大学材料各向异性与织构教育部重点实验室

摘 要:采用络合物型溶胶-凝胶法,通过对Bi2Sr2CaCu2O8+δ(Bi2212)超导相进行Bi位La微量掺杂制备(Bi1-xLax)2Sr2CaCu2O8+δ化合物粉体,研究了La替代部分Bi所引起的结构及导电特性变化.该粉体制备以可溶性无机盐为原料,乙二胺四乙酸(EDTA)为络合剂,La微掺杂x范围为0.010.09.利用TG-DTA曲线对化学反应过程进行分析,利用X射线衍射进行相分析,利用标准四引线法测试导电特性随温度的变化(R-T).结果表明,该粉体相仍保持正交Bi2212结构,但a和b轴长度增加,c轴减少;随La微掺杂的量的增加,对Bi2212相的导电特性影响显著.

关键词:Bi2212;溶胶-凝胶法;La掺杂;结构变化;超导电性;

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