高纯氧化钬中14个稀土杂质的光谱测定

来源期刊：分析试验室1991年第6期

论文作者：李全福 周朝雁

文章页码：35 - 38

关键词：高纯氧化钬;稀土杂质测定;正交设计;发射光谱;

摘    要：在3.4m Ebert平面光栅摄谱仪上将粉末试样放在氧-氩气氛中,在直流电弧阳级激发下,经正交设计对测试条件进行优化选择。研究表明,一次摄谱可完成高纯Ho₂O₃中14个稀土杂质元素的测定,杂质元素的测定下限为:Yb₂O₃0.0001%;La₂O₃,Sm₂O₃和Eu₂O₃0.0003;Y₂O₃0.0005%;Pr₆O₁₁和Gd₂O₃ 0.001%;Ce₂O₃,Nd₂O₃,Dy₂O₃和Tm₂O₃0.003%;Er₂O₃ 0.005%;Tb₄O₇和Lu₂O₃为0.01%。相对标准偏差为7.0～15.9%。