Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能
来源期刊：金属学报2003年第7期
论文作者：张颖 程璇 胡乔生 陈志武 张熹燕
关键词：相变光盘; 记录介质; 热力学参数; 光学; 薄膜;
摘 要：利用DSC，X射线衍射及分光光度计，对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究．结果表明，Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想，随着波长的改变，反射率变化太快．对于Ge-Sb-Te系的两种成分合金，在各种波段处都有较大的反衬度，其非晶态的光稳定性也比较理想，随着波长的改变，反射率变化不大．
张颖1，程璇2，胡乔生3，陈志武4，张熹燕5
(1.厦门大学材料科学与工程系，厦门 361005;
2.厦门大学化学系，厦门 361005;
3.赣南师范大学化学系，厦门 361005;
4.厦门大学材料科学与工程系，厦门 361005 华南理工大学电子材料科学与工程系，广州 510640;
5.西南交通大学材料工程系，成都 610031)
摘要:利用DSC，X射线衍射及分光光度计，对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究．结果表明，Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想，随着波长的改变，反射率变化太快．对于Ge-Sb-Te系的两种成分合金，在各种波段处都有较大的反衬度，其非晶态的光稳定性也比较理想，随着波长的改变，反射率变化不大．
关键词:相变光盘; 记录介质; 热力学参数; 光学; 薄膜;
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