X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟
来源期刊：中国无机分析化学2019年第2期
论文作者：阿丽莉 张盼盼 贺攀红 杨珍 梁亚丽 杨有泽
文章页码：50 - 53
关键词：X射线荧光光谱法;硫;氟;地质样品;
摘 要：采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫（S）和氟（F）元素的快速测定方法。通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证。结果显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差（RSD）均小于2%。方法具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定。
阿丽莉1,2，张盼盼2，贺攀红1,2，杨珍1,2，梁亚丽1,2，杨有泽1,2
1. 河南省核工业放射性核素检测中心2. 河南省核工业地质局
摘 要：采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫（S）和氟（F）元素的快速测定方法。通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证。结果显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差（RSD）均小于2%。方法具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定。
关键词：X射线荧光光谱法;硫;氟;地质样品;
