X-射线荧光光谱法快速测定电解质的BR、CaF2、MgF2、KF及Al2O3含量
来源期刊：轻金属2003年第9期
论文作者：罗湘宁 刘勇 杨韵屏
文章页码：21 - 24
关键词：电解质;分子比;化学成份;X-射线荧光;测定;
摘 要：本文对采用直接压片X-射线荧光光谱测定电解质分子比及其氧化铝和杂质元素含量的方法进行了探讨与研究,试验结果表明该方法分析结果可靠,可快速分析电解质的成分组成,能满足电解槽的控制需要。
罗湘宁，刘勇，杨韵屏
摘 要：本文对采用直接压片X-射线荧光光谱测定电解质分子比及其氧化铝和杂质元素含量的方法进行了探讨与研究,试验结果表明该方法分析结果可靠,可快速分析电解质的成分组成,能满足电解槽的控制需要。
关键词：电解质;分子比;化学成份;X-射线荧光;测定;
