X射线荧光光谱法测定碳化钨粉中钽、铌量
来源期刊:硬质合金2017年第5期
论文作者:颜晓华 彭宇 苏明 周梦倩
文章页码:348 - 352
关键词:碳化钨;X射线荧光光谱;钽;铌;
摘 要:碳化钨粉是生产硬质合金的主要原材料,碳化钨粉中钽、铌含量是一个重要的成分指标,通常采用化学重量法、原子发射光谱法(AES)分析。本方法采用经典的压片制样法,将碳化钨氧化成三氧化钨混合磨匀,以消除颗粒效应,在无合适含钽、铌的碳化钨及三氧化钨标样情况下,采用在三氧化钨基体中加入钽、铌标准溶液的方式配制标样,采用变动的理论α影响系数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱仪(XRF)测定碳化钨粉中钽、铌含量的分析方法。校准曲线在钽质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,铌质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,方法加标回收率95.8%~104.0%,相对标准偏差(RSD,n=7)小于3.6%,分析结果同原子发射光谱法(AES)、化学重量法一致。
颜晓华1,2,3,彭宇1,2,3,苏明1,2,3,周梦倩1,2,3
1. 硬质合金国家重点实验室2. 工业(硬质合金及钨制品)产品质量控制及技术评价实验室3. 株洲硬质合金集团有限公司
摘 要:碳化钨粉是生产硬质合金的主要原材料,碳化钨粉中钽、铌含量是一个重要的成分指标,通常采用化学重量法、原子发射光谱法(AES)分析。本方法采用经典的压片制样法,将碳化钨氧化成三氧化钨混合磨匀,以消除颗粒效应,在无合适含钽、铌的碳化钨及三氧化钨标样情况下,采用在三氧化钨基体中加入钽、铌标准溶液的方式配制标样,采用变动的理论α影响系数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱仪(XRF)测定碳化钨粉中钽、铌含量的分析方法。校准曲线在钽质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,铌质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,方法加标回收率95.8%~104.0%,相对标准偏差(RSD,n=7)小于3.6%,分析结果同原子发射光谱法(AES)、化学重量法一致。
关键词:碳化钨;X射线荧光光谱;钽;铌;