用溶剂萃取和X-射线荧光光谱法（XRF）测定岩石与矿物中的微量钼与钨
来源期刊：中国钼业1992年第4期
论文作者：N.Sen 许孙曲
文章页码：31 - 33
摘 要：业已用溶剂萃取分离,继之用X-射线荧光光谱法测定岩石与矿物中的钼与钨。采用与氢氟酸和过氯酸混合物一起加热或用焦硫酸钾熔融的办法分解试样,再用N-苯酰苯胲甲苯溶液从4～5M硫酸介质中萃取钼与钨。把萃取物收集在大量的纤维素粉末上,于真空中干燥,全部彻底混合,并压成片,进行XRF测定。该法全部无基质效应,并无需进行元素间影响的数学校准,本法适于测定地质材料低至ppm级的钼与钨,精密度与准确度较好。
N.Sen，许孙曲
南方冶金学院 江西省赣州市 341000
摘 要：业已用溶剂萃取分离,继之用X-射线荧光光谱法测定岩石与矿物中的钼与钨。采用与氢氟酸和过氯酸混合物一起加热或用焦硫酸钾熔融的办法分解试样,再用N-苯酰苯胲甲苯溶液从4～5M硫酸介质中萃取钼与钨。把萃取物收集在大量的纤维素粉末上,于真空中干燥,全部彻底混合,并压成片,进行XRF测定。该法全部无基质效应,并无需进行元素间影响的数学校准,本法适于测定地质材料低至ppm级的钼与钨,精密度与准确度较好。
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