使用自动粒度分析仪监测破碎机排矿口的调节

来源期刊：现代矿业1998年第8期

论文作者：M.V.洪登贝格 黄鲁叶

文章页码：12 - 14

摘    要：近几年来颗粒测定技术主要保中在微米和亚微米范围。光电子学技术设备的不断改进,使开发用于测定颗粒的形状和粒度的图象分析测量程序成为可能。HaverCPA是用于测定毫米范围颗粒粒度的新型图象分析程序。它提供分析自由落体或运动中非团聚物料的方法。本文介绍的在线自动粒度分析仪和破碎机一起用于连续监测。分析结果连续地转换成破碎机的控制和调节信号,从而避免了不正常生产,产品得到改进,产值得到提高。工厂人员使用粒度分布曲线了解破碎机的破碎结果,必要时对破碎机进行调节。常规的筛分方法费时而昂贵。目前,光学照相在线监测提供了更为简单和经济的粒度分析方法。