水分对10 kV电缆XLPE片状试样超低频介质损耗因数的影响
来源期刊:绝缘材料2019年第12期
论文作者:齐伟强 胡则剑 徐兴全 陶贺香 任志刚 桂媛 郭卫 于钦学
文章页码:53 - 57
关键词:超低频;介质损耗因数;XLPE;浸水特性;
摘 要:交联聚乙烯(XLPE)电缆在运行过程中接头部分极易受潮,导致绝缘性能下降,影响其正常运行。为了探究交联聚乙烯受潮对其相对介电常数(εr)和介质损耗因数(tanδ)的影响,以片状XLPE试样为研究对象,测量其在不同浸水时间的εr和tanδ随频率的变化,并对试样的超低频介质损耗因数tanδ0.1 Hz和工频介质损耗因数tanδ50 Hz进行Pearson相关分析,最后对浸水前后的XLPE试样进行红外光谱分析。结果表明:不同浸水时间XLPE试样的tanδ0.1 Hz比tanδ50 Hz大2.36~3.28倍,tanδ0.1 Hz、tanδ50 Hz及εr均随浸水时间的增加而增大,其中tanδ0.1 Hz的增大趋势更显著;tanδ0.1 Hz与tanδ50 Hz具有强相关性;红外光谱测试结果表明,XLPE分子结构中部分亚甲基变为H-C-OH基团,有水分以结构水的形式存在于浸水后的试样中。
齐伟强1,胡则剑2,徐兴全1,陶贺香2,任志刚1,桂媛1,郭卫1,于钦学2
1. 国网北京市电力公司电力科学研究院2. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室
摘 要:交联聚乙烯(XLPE)电缆在运行过程中接头部分极易受潮,导致绝缘性能下降,影响其正常运行。为了探究交联聚乙烯受潮对其相对介电常数(εr)和介质损耗因数(tanδ)的影响,以片状XLPE试样为研究对象,测量其在不同浸水时间的εr和tanδ随频率的变化,并对试样的超低频介质损耗因数tanδ0.1 Hz和工频介质损耗因数tanδ50 Hz进行Pearson相关分析,最后对浸水前后的XLPE试样进行红外光谱分析。结果表明:不同浸水时间XLPE试样的tanδ0.1 Hz比tanδ50 Hz大2.36~3.28倍,tanδ0.1 Hz、tanδ50 Hz及εr均随浸水时间的增加而增大,其中tanδ0.1 Hz的增大趋势更显著;tanδ0.1 Hz与tanδ50 Hz具有强相关性;红外光谱测试结果表明,XLPE分子结构中部分亚甲基变为H-C-OH基团,有水分以结构水的形式存在于浸水后的试样中。
关键词:超低频;介质损耗因数;XLPE;浸水特性;