国外X射线光谱分析近况
来源期刊：分析试验室1983年第3期
论文作者：袁汉章
文章页码：22 - 25
摘 要：<正> X光谱法如今已成为一种很重要的仪器分析法。近年来文献俱增,应用范围不断扩大。自70年代以来,其进展大致归纳如下几点。首先波长色散X光谱法在仪器分析中占有了一个重要的位置。包括吸收增强效应,粒度效应以及表面结构效应在内的基体影响,大部分可用各种数学校正的办法得到解决。各种间接的分析方法把X光谱法的适用范围几乎扩大到整个周期表。新颖的多道X光谱仪在1～2分钟内可同时测量30个元素,还能对多达60个样品有条不紊地进行自动分析。
袁汉章
有色金属研究总院
摘 要：<正> X光谱法如今已成为一种很重要的仪器分析法。近年来文献俱增,应用范围不断扩大。自70年代以来,其进展大致归纳如下几点。首先波长色散X光谱法在仪器分析中占有了一个重要的位置。包括吸收增强效应,粒度效应以及表面结构效应在内的基体影响,大部分可用各种数学校正的办法得到解决。各种间接的分析方法把X光谱法的适用范围几乎扩大到整个周期表。新颖的多道X光谱仪在1～2分钟内可同时测量30个元素,还能对多达60个样品有条不紊地进行自动分析。
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