粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙和二氧化硅

来源期刊：中国无机分析化学2017年第2期

论文作者：兰福荫 刘天一 李先和 万双 刘恩举

文章页码：34 - 37

关键词：X射线荧光光谱法;粉末压片法;生石灰粉;

摘    要：采用粉末压片法制样,建立了波长色散X射线荧光光谱法快速测定生石灰粉中氧化钙、二氧化硅的分析方法。由于没有国家标准样品,采用自制生石灰粉标准样品绘制工作曲线。考察了样品粒度及吸潮对分析结果的影响。实验表明,在样品粒度为74μm、压样机压力为12 MPa、压制时间为45s的制样条件下荧光计数率最稳定,在30min内测定样品效果最佳。采用α理论系数法和经验系数法相结合校正基体影响。对同一生石灰粉样品进行精密度实验,各组分的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.04%~0.43%。测定了5个生石灰粉样品,所得结果与常规化学分析方法测定值相符。