三方圈一级加权处理法确定爱泼斯坦方圈等效磁路长度

李悦宁¹，李永刚¹，程志光²，孔庆奕³

1. 华北电力大学电气与电子工程学院2. 保定天威集团公司3. 河北工业大学电气工程学院

摘 要：基于双爱泼斯坦方圈测量法,采用两组双爱泼斯坦方圈（即2E（25-20）和2E（20-17.5））磁性能测量装置,对30P120硅钢试片进行了双方圈测量实验,考察了等效磁路长度的影响因素。通过三维仿真模拟,证明了双爱泼斯坦方圈法的前提条件是相应的搭接位置磁密相等,在其基础上,提出一种加权处理法,对25cm爱泼斯坦方圈不同部位（其铁轭中段均匀区和角部搭接区以及两者之间的影响区）的总比损耗所确定的等效磁路长度进行加权处理,确定其实际有效的磁路长度,并与双方圈法进行比较分析。既排除方圈角部双搭接结构区域被测试样磁性能不均匀性的影响,又考虑了方圈不同部位的总比损耗对等效磁路长度的影响。实验结果证实本文提出的方法可以正确地确定电工钢片的总比损耗。

关键词：硅钢片;双爱泼斯坦方圈法;等效磁路长度;总比损耗;加权处理法;