经验系数法X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素
来源期刊：分析试验室1983年第3期
论文作者：李国会 梁国立 陈勇军
文章页码：36 - 67
摘 要：<正> 利用粉末样品直接压片,以峰背(包括X光管靶线的康普顿散射线)比法校正基体效应,X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素,方法简便快速,检出限通常可达到数个ppm。然而,若单纯采用峰背比法校正基体效应,硅酸盐样品中主元素铁的含量在较大范围内变化时,会造成较大的测定误差。本文在峰背比法的基础上,同时采用经验系数法校正由铁含量变化造成的基体及背景的影响,提高了方法的准确度。
李国会，梁国立，陈勇军
摘 要：<正> 利用粉末样品直接压片,以峰背(包括X光管靶线的康普顿散射线)比法校正基体效应,X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素,方法简便快速,检出限通常可达到数个ppm。然而,若单纯采用峰背比法校正基体效应,硅酸盐样品中主元素铁的含量在较大范围内变化时,会造成较大的测定误差。本文在峰背比法的基础上,同时采用经验系数法校正由铁含量变化造成的基体及背景的影响,提高了方法的准确度。
关键词：
