文章编号:1004-0609(2009)07-1289-05
铋基无铅压电陶瓷Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3-BiCrO3的
微观组织与电性能
周昌荣1,刘心宇1,杨桂华2,袁昌来1,江民红1
(1. 桂林电子科技大学 广西信息材料重点实验室,桂林 541004;
2. 桂林工学院 电子与计算机系,桂林 541004)
摘 要:采用传统陶瓷制备方法,制备一种新型无铅压电陶瓷 (1?x)Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3-xBiCrO3 (BNKT-BCx)。研究Bi基铁电体BiCrO3对BNKT-BCx陶瓷晶体结构和压电介电性能的影响。结果表明:在所研究的组成范围内,陶瓷材料的主体结构为纯钙钛矿固溶体,微量BiCrO3(x=0~0.02,摩尔分数)不改变陶瓷的晶体结构;当BiCrO3含量x>0.02时,晶体结构由三方、四方共存转变为伪立方结构,并出现明显的第二相;当x=0.015时,d33=168 pC/N;当x=0.01时,kp=0.32,为该体系压电性能的最大值;随BiCrO3含量的增加,陶瓷的低温介电反常峰向低温移动,高温介电反常峰向高温移动,反铁电相区域增加,弥散指数增加。
关键词:钛酸铋钠;无铅压电陶瓷;压电性能;钙钛矿结构
中图分类号:TM 282 文献标识码:A
Microstructure and electrical properties of Bi-based lead-free piezoelectric ceramics Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3-BiCrO3
ZHOU Chang-rong1, LIU Xin-yu1, YANG Gui-hua2, YUAN Chang-lai1, JIANG Min-hong1
(1. Guangxi Key Laboratory of Information Materials, Guilin University of Electronic Technology, Guilin 541004, China;
2. Department of Electron and Computer, Guilin University of Technology, Guilin 541004, China)
Abstract: A new (Bi0.5Na0.5)TiO3-based lead-free piezoelectric ceramics, (1?x)Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3-xBiCrO3 (BNKT-BCx), was prepared by a conventional ceramic sintering technique. The effect of Bi-based ferroelectrics of BiCrO3 on the crystal structure, dielectric and piezoelectric properties was investigated. X-ray diffraction patterns indicate that trace BiCrO3 addition(x=0?0.02) causes insignificant change in crystal structure, and an obvious secondary phase is observed in the samples with x>0.02. The piezoelectric constant d33 and the electromechanical coupling factor kp of the ceramics attain maximum values of 168 pC/N and 0.32 near morphotropic phase boundary (MPB) that co-existence between rhombohedral and tetragonal. With increasing BiCrO3 content, the antiferroelectric phase zone gets broader and the diffuse coefficient increases.
Key words: sodium bismuth titanate; lead-free piezoelectric ceramics;piezoelectric properties; perovskites structure
钛酸铋钠(Bi0.5Na0.5)TiO3(BNT)是一种A位复合取代的ABO3型钙钛矿铁电体,具有较大的剩余极化(Pr=38 ?C/cm2)和较高的居里温度(tC=320 ℃)的特点,被认为是最有希望取代铅基压电陶瓷的无铅压电材料之一[1?4]。但纯的BNT陶瓷矫顽场高(Ec=73 kV/cm),在铁电相区电导率高,极化极为困难,使它的压电性很难充分发挥出来。研究发现,BNT可以和(Ba, Ca, Sr, Pb)TiO3、(Bi0.5K0.5)TiO3等化合物形成固溶体,可降低矫顽场,提高压电性能[5]。当BKT含量(摩尔分数)为0.16~0.20时,其中由BNT和BKT组成的两元体系为该体系的准同型相界组成,并表现出优异的压电性 能[6?7]。同时,三元系BNT基陶瓷较单元系和二元系陶瓷性能有较大提高。如在BNT-BKT体系中再引入第三组元,如BaTiO3(BT),则形成BNT–BKT–BT三元体系,利用三元体系的准同型相界得到具有较高压电性能的材料[8?9]。此外,研究表明[10],Bi在元素周期表上与Pb相邻,具有相同的电子分布、相近的离子半径和分子量,(Bi1/2Na1/2)TiO3强的铁电性来源于(Bi1/2Na1/2)2+离子,特别是Bi3+离子,故Bi也能促进强铁电性的产生。同时,DU等[11]报道Pb的6p轨道和O的2p轨道的杂化是Pb基陶瓷高铁电压电活性的来源。由于Bi3+与Pb2+具有相同的非惰性气体型的外层电子结构6s2p0,因此,Bi基钙钛矿固溶体具有好的压电铁电性能。此外,SUCHOMEL和DAVIES[12]研究发现铋基铁电体BiMeO3(Me为离子半径较大的阳离子如Cr、Fe、Sc和In等)与PbTiO3组成BiMeO3-PbTiO3体系存在准同型相界,并在相界附近具有良好的性能和较高的居里温度。这些铋基铁电体BiMeO3大都具有畸变的钙钛矿结构,室温下为三方晶系,具有良好的铁电性能和较高的居里温度。因此,本文作者以压电性能较好的Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3为基础成分,选择具有较高居里温度和铁电性的Bi基铁电体BiCrO3为第三组元,研究新型Bi基钙钛矿型(1?x)Bi0.5- (Na0.82K0.18)0.5TiO3-xBiCrO3无铅陶瓷体系晶体结构、显微组织和压电性能,为探索新型无铅压电陶瓷提供实验和理论依据。
1 实验
采用分析纯的原料Bi2O3, Na2CO3, K2CO3,TiO2和Cr2O3,根据化学式(1?x)Bi0.5(Na0.82K0.18)0.5TiO3-xBiCrO3 (BNKT-BCx)进行配比,x取0、0.01、0.015、0.02和0.025(摩尔分数)。准确称量后,以无水乙醇为球磨介质球磨12 h,干燥后,于850~950 ℃下保温2 h合成,合成后的粉料烘干破碎过筛造粒后加入3%的PVA溶液作为粘结剂,在100 MPa的压力下压制成直径 d 18 mm,厚1.0~1.5 mm的圆坯,慢速升温(升温速度为3 ℃/min)至600 ℃保温2 h排胶,然后以200 ℃/h的升温速度,在1 150 ℃下烧结保温2 h,样品磨光后被银电极,在40~50 ℃的硅油内极化,极化电压为3~4 kV/mm,极化时间为15 min。极化后的样品放置24 h再测试其性能。采用德国Bruker公司生产的D8?2?ADVANCED型衍射仪测定烧结样品的晶相合成情况;采用日本JSM?5610LV型扫描电镜观察烧结样品的微观形貌;采用ZJ?3AN型准静态d33测量仪测量压电常数d33;采用Agilent4294A精密阻抗分析仪测量陶瓷在1 kHz下的介电容量、谐振频率和阻抗,计算机电耦合系数和机械品质因素等压电性能参数。
2 结果与分析
图1所示为BNKT-BCx陶瓷样品2θ在20?~80?和38?~48?间的XRD谱。从图1(a)中可以看出,所研究的陶瓷样品的主体结构均为钙钛矿(ABO3)型固溶体。表明BKT与BiCrO3均能固溶进BNT陶瓷晶格中形成固溶体,但BiCrO3含量为0.025时出现明显的杂峰。
图1 室温下BNKT-BCx陶瓷样品的XRD谱
Fig.1 XRD patterns of BNKT-BCx ceramics: (a) 20??80?; (b) 38??48?
对ABO3型钙钛矿结构的化合物,其容忍因子(t)为:
式中:R代表半径;当t>1时,结构由A位离子决定,B位离子有较大的活动空间;当t<1时,结构由B位离子决定,A位离子有较大的活动空间;t=1时,原子形成紧密堆积。A位或B位离子的置换如果引起容忍因子的较大变化,可能会导致结构发生转变或容易形成第二相。BiCrO3的容忍因子经计算为t=0.885,BNT的容忍因子t=0.943,BiCrO3的容忍因子偏离1较远,说明BiCrO3的稳定性较差,容易形成第二相。因此,添加量为0.025时,该体系陶瓷就出现明显的第二相杂峰。由图1(b)中可以看出,当x≤0.02时,各组成陶瓷40?与47?左右为(003)(021)与(002)(200)的双峰,表明陶瓷为三方和四方共存结构;当x>0.02时,样品40?左右(003)(021)双峰有合并为(111)单峰的趋势,47?左右(002)(200)的双峰也有合并为(202)的单峰的趋势,表明陶瓷晶体结构有向伪立方结构转变的趋势。
图2所示为BNKT-BCx陶瓷的平面机电耦合系数kp、压电常数d33和机械品质因数Qm随BiCrO3含量x的变化关系。从图2(a)中可以看出,随着BiCrO3含量的增加,压电常数d33明显增加,机电耦合系数kp缓
图2 BNKT-BCx陶瓷的压电性能与x的关系
Fig.2 Relationships between piezoelectric properties and BiCrO3 content for BNKT-BCx ceramics
慢上升;当x≥0.02时,d33与kp随x的增加急剧下降,Qm随BiCrO3含量的增加而下降。在准同型相界成分附近达到最大值。当x =0.015时,d33=168 pC/N;当x=0.01时,kp=0.32,为该体系陶瓷的最佳压电性能。由图2(b)可以看出,随BiCrO3含量x的增加,陶瓷Qm一直下降。
根据离子位移理论[13],ABO3钙钛矿型铁电体的铁电性主要来源于氧八面体BO6中B位离子的位移。在PZT基陶瓷中, Pb2+具有很高的位移量和电子位移极化率,对PZT基陶瓷的压电性能具有重要的贡献。根据文献[14],由于Bi3+与Pb2+分别为元素周期表中的82号和83号元素,具有相同的非惰性气体型的外层电子结构,相近的离子半径和相对分子质量。因此, (Bi0.5Na0.5)TiO3强的铁电性来源于(Bi0.5Na0.5)2+离子,特别是Bi3+离子,故Bi也能促进强铁电性和压电性的产生。BNKT-BCx陶瓷随BiCrO3含量的增加,其Bi含量增加,导致压电性能增加。另外,一般陶瓷在准同型相界具有较好的压电性能,当BiCrO3含量较高时,根据图1,其晶体结构由三方、四方共存转变为伪立方方结构,这样会引起压电性能急剧下降。因此,使该体系陶瓷的压电性能随BiCrO3含量增加时先增加后降低。
图3所示为BNKT-BCx陶瓷的在1 kHz下的介电常数随温度的变化关系。从图3中可以看出,所有样品的曲线都有两个介电反常峰。通常认为低温介电反常峰(td)对应陶瓷铁电?反铁电相变,高温介电反常峰(tm)对应反铁电?顺电相变。同时,低温介电反常峰所对应的温度为该陶瓷的退极化温度。BNKT-BCx陶瓷的低温介电反常峰随x的增加向低温移动,也就是说
图3 在1 kHz下BNKT-BCx陶瓷的介电常数随温度的变化
Fig.3 Changes of ε with temperature at 1 kHz for BNKT-BCx ceramics
退极化温度随随x的增加而降低。与低温介电反常峰变化相反,高温介电反常峰随x的增加向高温移动,同时对应的介电常数εm降低。说明反铁电相区域随x的增加而扩大。从图3中还可以看出,BNKT-BCx陶瓷均具有宽化介电峰,表现为弥散相变的特征。可采用修正的居里?外斯公式来描述其介电弥散行为[4]:
式中:εm为介电常数的峰值;tm为介电峰值所对应的温度;C为常数;α为衡量相变弥散程度的弥散性指数。在t>tm条件下可通过线性拟合的方法拟合出弥散相变的弥散系数α,从而确定弥散相变的弥散程度。图4所示为BNKT-BCx陶瓷弥散指数α与x的关系。从图4中可以看出,弥散指数α随x的增加而增加。OH[15]和宋瑞雪等[16]研究认为,含Ti的ABO3型钙钛矿结构的铁电体的介电弥散主要原因为氧空位的离子化。氧空位离子化形成的带正电的空位和自由电子能形成偶极矩,或者说氧空位形成了空间电荷极化,这种空间电荷极化造成介电弥散。由于BiCrO3中Cr3+离子在配位数为6时的离子半径为0.616 ?,与B位的Ti4+离子半径0.61 ?接近。因此,Cr3+离子进入B位取代Ti4+离子,由于电价不平衡,产生氧空位,随x的增加,氧空位数量增加,造成弥散指数α增加。
图4 BNKT-BCx陶瓷的弥散指数α随x的变化
Fig.4 Change of diffuse coefficient (α) with x for BNKT-BCx ceramics
3 结论
1) 随BiCrO3含量的增加,陶瓷晶体结构由三方、四方共存转变为伪立方结构,并出现明显的第二相。
2) 压电性能随BiCrO3含量的增加先增加后降低,在准同型相界附近成分的压电性能达到最大值。当x=0.015时,d33=168 pC/N;x=0.01时,kp=0.32,为该体系陶瓷的最佳压电性能。
3) 随BiCrO3含量的增加,陶瓷的低温介电反常峰向低温移动,高温介电反常峰向高温移动,反铁电相区域增加,弥散相变特征越明显。
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基金项目:广西自然科学基金资助项目(0447092);广西信息材料重点实验室主任基金资助项目(桂科能0710908-02-Z)
收稿日期:2008-08-22;修订日期:2009-03-16
通讯作者:周昌荣,副研究员,博士;电话:0773-5601434;传真:0773-5605903;E-mail: zcr750320@yahoo.com.cn
(编辑 李艳红)