镀钯铜线性能对键合质量的影响研究
来源期刊：材料科学与工艺2014年第5期
论文作者：曹军 范俊玲 薛铜龙
文章页码：48 - 53
关键词：镀层厚度;延伸率;拉断力;热影响区;键合;
摘 要：研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off（EFO）过程中的Free Air Ball（FAB）偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀;延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中,并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低;镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度,造成长的热影响区和颈部晶粒粗大,降低其力学性能,焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝.
曹军1，范俊玲2，薛铜龙1
1. 河南理工大学机械与动力工程学院2. 焦作大学化工与环境工程学院
摘 要：研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off（EFO）过程中的Free Air Ball（FAB）偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀;延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中,并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低;镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度,造成长的热影响区和颈部晶粒粗大,降低其力学性能,焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝.
关键词：镀层厚度;延伸率;拉断力;热影响区;键合;
