熔融制样-X射线荧光光谱法测定氢氧化铝和氧化铝中9种杂质元素含量
来源期刊：轻金属2017年第12期
论文作者：马兵兵 程光贵 李科建 廖俊梅 徐阳 卜云磊
文章页码：14 - 17
关键词：熔融制样;X射线荧光光谱法;氧化铝;氢氧化铝;杂质元素;
摘 要：采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定了氢氧化铝和氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、ZnO、TiO2、V2O5、P2O5等9种微量和痕量杂质元素含量。样品以四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融,溴化锂为脱模剂,在800℃和1000℃下分别加热3min,然后在1150℃下熔融8min,冷却后制成玻璃片测定。用氧化铝和氢氧化铝国家标准物质绘制校准曲线,在一定范围内,荧光强度与化学含量呈线性关系。当杂质含量大于0.001%时,本法测定值与标准值相符,9种杂质成分的检出限在0.000084%0.0074%之间,不同成分测定值的相对标准偏差（n=10）在0.56%7.2%之间。
马兵兵1,2，程光贵1,2，李科建1,2，廖俊梅1,2，徐阳1,2，卜云磊1,2
1. 重庆市地下水资源利用与环境保护实验室2. 重庆岩土工程检测中心
摘 要：采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定了氢氧化铝和氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、ZnO、TiO2、V2O5、P2O5等9种微量和痕量杂质元素含量。样品以四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融,溴化锂为脱模剂,在800℃和1000℃下分别加热3min,然后在1150℃下熔融8min,冷却后制成玻璃片测定。用氧化铝和氢氧化铝国家标准物质绘制校准曲线,在一定范围内,荧光强度与化学含量呈线性关系。当杂质含量大于0.001%时,本法测定值与标准值相符,9种杂质成分的检出限在0.000084%0.0074%之间,不同成分测定值的相对标准偏差（n=10）在0.56%7.2%之间。
关键词：熔融制样;X射线荧光光谱法;氧化铝;氢氧化铝;杂质元素;
