正交设计-偏最小二乘光度法同时测定磷和硅
来源期刊：理化检验-化学分册2005年第1期
论文作者：胡利芬 曹顺安
关键词：正交设计,紫外光度法; 偏最小二乘法; 主成分回归; 磷; 硅;
摘 要：采用正交设计法研究了磷、硅在酸性钼酸铵和混合还原剂中的最佳显色条件,建立了多波长紫外可见光度法同时测定磷、硅的方法.试验中采集多个波长下的吸光度构成校正矩阵,用偏最小二乘法对该矩阵进行解析,得出了校正模型.该模型与通过主成分回归法得到的模型相比,预测结果更准确.
胡利芬1，曹顺安1
(1.武汉大学,动力与机械学院水质工程系,武汉,430072)
摘要:采用正交设计法研究了磷、硅在酸性钼酸铵和混合还原剂中的最佳显色条件,建立了多波长紫外可见光度法同时测定磷、硅的方法.试验中采集多个波长下的吸光度构成校正矩阵,用偏最小二乘法对该矩阵进行解析,得出了校正模型.该模型与通过主成分回归法得到的模型相比,预测结果更准确.
关键词:正交设计,紫外光度法; 偏最小二乘法; 主成分回归; 磷; 硅;
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