电感耦合等离子体质谱法测定硅铁中杂质元素
来源期刊：冶金分析2013年第10期
论文作者：亢德华 王铁 于媛君 王翠艳 白轩
文章页码：64 - 68
关键词：电感耦合等离子体质谱法;硅铁;杂质元素;
摘 要：探讨了应用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定硅铁中B、Mg、V、Co、Cr、Ni、Cu、Mo、Sn共9种杂质元素的分析方法。为了避免Cl-对待测元素的干扰,选择硝酸和氢氟酸来溶解样品,并考察了硼元素损失情况。通过对各待测元素同位素潜在干扰、试剂空白等效浓度及干扰程度的探讨,确定了测量用同位素11B、24 Mg、51 V、59 Co、52 Cr、60 Ni、63 Cu、98 Mo、120Sn。采用基体匹配法消除基体干扰对测定元素的影响。方法用于硅铁标准物质分析,测定值与认定值符合较好,方法的检出限为0.03μg/L（Sn）0.45μg/L（B）,各元素测定结果的相对标准偏差（RSD）均小于10%,加标回收率为80%110%。
亢德华1，王铁1，于媛君1，王翠艳2，白轩2
1. 鞍钢股份有限公司技术中心2. 鞍山师范学院化学系
摘 要：探讨了应用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定硅铁中B、Mg、V、Co、Cr、Ni、Cu、Mo、Sn共9种杂质元素的分析方法。为了避免Cl-对待测元素的干扰,选择硝酸和氢氟酸来溶解样品,并考察了硼元素损失情况。通过对各待测元素同位素潜在干扰、试剂空白等效浓度及干扰程度的探讨,确定了测量用同位素11B、24 Mg、51 V、59 Co、52 Cr、60 Ni、63 Cu、98 Mo、120Sn。采用基体匹配法消除基体干扰对测定元素的影响。方法用于硅铁标准物质分析,测定值与认定值符合较好,方法的检出限为0.03μg/L（Sn）0.45μg/L（B）,各元素测定结果的相对标准偏差（RSD）均小于10%,加标回收率为80%110%。
关键词：电感耦合等离子体质谱法;硅铁;杂质元素;
