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CexPr1-xO2-δ复合氧化物的制备、表征及CO和CH4 氧化性能研究

来源期刊:无机材料学报2005年第3期

论文作者:罗孟飞 谢冠群 林霞 闫宗兰 罗建海

关键词:CexPr1-xO2-δ复合氧化物; Raman; XRD; CO氧化; CH4氧化;

摘    要:采用溶胶-凝胶法制备了CexPr1-xO2-δ复合氧化物,用XRD和Raman光谱对复合氧化物的体相和表面结构进行了表征.结果表明,当x≥0.5时Pr离子完全进入CeO2晶格中形成单一立方相固溶体.CexPr1-xO2-δ(x>0.3)复合氧化物在465和1150cm-1附近出现具有CaF2结构的Raman特征峰,和由氧空穴引起的不对称振动产生的570和195cm-1Raman谱峰.固溶体的形成使还原温度降低,提高了复合氧化物的还原性能.CO氧化活性表明氧空穴的存在对CO氧化活性有一定的对应关系;而CH4氧化活性则与还原温度和强度有关.

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CexPr1-xO2-δ复合氧化物的制备、表征及CO和CH4 氧化性能研究

罗孟飞1,谢冠群1,林霞1,闫宗兰1,罗建海1

(1.浙江师范大学物理化学研究所,金华,321004)

摘要:采用溶胶-凝胶法制备了CexPr1-xO2-δ复合氧化物,用XRD和Raman光谱对复合氧化物的体相和表面结构进行了表征.结果表明,当x≥0.5时Pr离子完全进入CeO2晶格中形成单一立方相固溶体.CexPr1-xO2-δ(x>0.3)复合氧化物在465和1150cm-1附近出现具有CaF2结构的Raman特征峰,和由氧空穴引起的不对称振动产生的570和195cm-1Raman谱峰.固溶体的形成使还原温度降低,提高了复合氧化物的还原性能.CO氧化活性表明氧空穴的存在对CO氧化活性有一定的对应关系;而CH4氧化活性则与还原温度和强度有关.

关键词:CexPr1-xO2-δ复合氧化物; Raman; XRD; CO氧化; CH4氧化;

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